SNJ54BCT8245AFK

部品番号:
SNJ54BCT8245AFK
メーカー:
Texas Instruments
その他の部品番号:
-
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
仕様書:
PDF

製品属性

部品ステータス Active
実装タイプ Surface Mount
動作温度 -55°C ~ 125°C
ビット数 8
電源電圧 4.5V ~ 5.5V
ロジックタイプ Scan Test Device with Bus Transceivers
パッケージ / ケース 28-CLCC
サプライヤーデバイスパッケージ 28-LCCC (11.43x11.43)