SNJ54ABT8245FK

部品番号:
SNJ54ABT8245FK
メーカー:
Texas Instruments
Other Part Numbers:
-
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-LCCC
Datasheet:
PDF

Product Attributes

部品ステータス Active
実装タイプ Surface Mount
動作温度 -55°C ~ 125°C
ビット数 8
電源電圧 4.5V ~ 5.5V
ロジックタイプ Scan Test Device with Bus Transceivers
パッケージ / ケース 28-CLCC
サプライヤーデバイスパッケージ 28-LCCC (11.43x11.43)