SN74LVTH18502APMG4

部品番号:
SN74LVTH18502APMG4
メーカー:
Texas Instruments
その他の部品番号:
-
説明:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
仕様書:
-

製品属性

部品ステータス Obsolete
動作温度 -40°C ~ 85°C
実装タイプ Surface Mount
パッケージ / ケース 64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ 64-LQFP (10x10)
ロジックタイプ ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers