SN74BCT8240ANT

部品番号:
SN74BCT8240ANT
メーカー:
Texas Instruments
Other Part Numbers:
-
説明:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
Datasheet:
PDF

Product Attributes

部品ステータス Obsolete
実装タイプ Through Hole
動作温度 0°C ~ 70°C
パッケージ / ケース 24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ 24-PDIP
ビット数 8
電源電圧 4.5V ~ 5.5V
ロジックタイプ Scan Test Device with Inverting Buffers